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在X射线荧光光谱分析中,X射线管靶子的特征谱线和连续谱线均可被样品散射,所形成的背景强度与试样对该波长的质量吸收系数的倒数成线性关系。在两个波长之间,如不存在基体元素的吸收边,则对于不同成分的试样而言,试样对这两波长的质量吸收系数的比值近似一个常数。因而在此波长范围内,对于不同试样,任何两个背景强度之间成线性关系,同时,某一波长的背景强度与其间任一波长的质量吸收系数的倒数皆成线性关系。本文在文献的基础上,用一系列纯的稳定的且对被测痕量元素可称为“空白”的合成样品,在基体元素K吸收边的短波侧的一定波长范围内,测得待测