论文部分内容阅读
针对目前人工检测电子元件外形缺陷的不足,研究了图像处理技术,并以晶振为例,设计了基于图像传感器的电子元件外形检测系统。首先对电子元件准确定位,由CMOS图像传感器采集元件外形的图像信息,并采用全局阈值分割法,用硬件完成图像的二值化处理。单片机将得到的二值化数据逐行扫描,并进行分析与比较,以判断该元件是否存在缺陷。实验表明该方法的检测精度可达到±0.039mm,满足测量的需求,可解决人工检测的不足。