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针对采用单一的传统布尔逻辑在有限状态机面积优化中的不足，提出一种基于传统布尔逻辑和Reed-Muller（RM）逻辑的双逻辑有限状态机（FSM）面积优化算法。利用不相交乘积项之间的位操作，将函数的逻辑覆盖拆分成分别适合传统布尔逻辑和RM逻辑综合的两部分。采用布尔逻辑乘积项和RM逻辑覆盖对应的字母数作为电路面积的成本函数，指导遗传算法搜索出适合双逻辑综合的状态分配，实现FSM组合电路面积优化。通过MCNC标准电路对算法进行测试。实验结果表明，相比单一的布尔逻辑，采用双逻辑综合后，可使近80％的FSM测试电路