软X光多层镜反射率在同步辐射源上的标定

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软X光多层镜反射率标定实验在北京同步辐射装置上进行,利用BSRF-3W1B束线及其反射率计靶室(主靶室)标定不同材料的多层镜样品的反射率。多层镜的标定采用波长扫描法,以得到样品反射率随波长变化的曲线。给出了21°B4C/Si,21°-B4C/Mo,10°-Cr/Ti,15°-B4C/w,10°-B4C/W以及6.86°-B4C/W等6块多层镜在50~1500 eV能段上的反射率标定曲线,并将其与理论计算结果进行比较。结果表明:标定曲线与理论曲线很
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