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1 研讨会背景和总体情况介绍第一届日本-美国纳米技术工具和测量学研讨会于2003年1月21～24日在美国康乃尔大学举行.这次研讨会是由日本教育、文化、体育和科技部(MEXT)与美国国家科学基金(NSF)共同资助的,其目的是在纳米起巨大作用的广大领域(如生物学、化学、电子学、力学、材料学、光学)内,对用于创造、分析、测量、再现和重复论证的工具方面的创新进行一次评定性的研讨.研讨会采取讨论和辨论的形式,并以一系列学科中纳米尺度上的高级研究为导向.