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用熔融-淬冷法制备了无稀土掺杂与Dy^3＋（0.04mol%）掺杂Ge（30）Ga5Se（65）和0.9Ge（30）Ga5Se（65）＋0.1CsBr玻璃样品.采用Judd-Ofelt理论计算了0.9Ge（30）Ga5Se（65）＋0.1CsBr玻璃样品中Dy^3＋跃迁的强度系数、自发辐射几率与荧光分支比.为了研究多声子弛豫（MPR）随温度的变化,测试了Dy^3＋的^6H（11/2）能级在20～300K温度范围内的荧光寿命,分析了Ge（30）Ga5Se（65）玻璃中声子模式与电子-声子结合强度对Dy^3＋