肥大性骨关节病1例

来源 :承德医学院学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:china_jjf_wolf
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随着集成电路制造工艺水平的提高,目前集成电路已经进入纳米量级尺寸,根据摩尔定律,未来单个芯片上晶体管的集成数量依然会呈现指数性增长,如此急剧的发展速度必然会提高测试的难度,与之伴随的便是费用成本。面对庞大的测试数据量,对于昂贵的自动测试设备(automatic test equipment,ATE)的硬件性能和可行性提出更高的要求,同时测试所面临的时间、功耗及复杂度问题本质上都是成本的损耗。因此,
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