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随着现代舰船电子技术的发展设备技术性能和结构要求提高，可靠性问题愈显突出。根据电子设备的现实使用情况，在其寿命方差线性变化的假设下，推导一种新的电子设备失效分布：进一步研究该分布密度函数中的参数特性，以及在完整数据情况下参数的负指数矩估计；推导新失效分布下电子设备的可靠性指标。实证分析表明选取的该电子设备失效率随时间的增长而增大，故符合推导的新分布的情况．分析结果与实际情况基本符合．说明推导的新分布及相应的密度函数性质、参数估计方法以及可靠性指数的计算等是切实可行的.