【摘 要】
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由于受制造探测器的半导体质量和工艺过程等因素的影响,红外探测器存在积分时间响应不均匀性。为了提高红外探测器的成像质量,有必要对其存在的非均匀性进行校正。分析了积分
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由于受制造探测器的半导体质量和工艺过程等因素的影响,红外探测器存在积分时间响应不均匀性。为了提高红外探测器的成像质量,有必要对其存在的非均匀性进行校正。分析了积分时间对探测器单元响应输出的影响,详细阐述了基于积分时间的非均匀性校正算法的原理,并提出了一种盲元补偿方法。将该算法用于国产640×512制冷型探测器的非均匀性校正实验,结果表明该算法对探测器的非均匀性校正具有明显的效果。
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