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分析了以35Kev N+离子注入甜菜种子出现的各种有益变异,结果表明:1)M0、M1种子发芽率受到抑制;2)M2代主要经济性状出现明显变异,含糖率提高0.28～1.04度;3)在M1代基础上再处理1次后,产量和含糖均有明显提高;4)经离子注入可出现早熟性材料,M2代含糖积累时间较对照提前15～20d.