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在分析现有杂光系数测量的基础上，提出了一种新的长焦距光学系统杂光系数测量的方法，并对这种方法进行了理论分析。
长焦距光学系统杂光系数测量的新方法及其理论分析
【摘 要】
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在分析现有杂光系数测量的基础上，提出了一种新的长焦距光学系统杂光系数测量的方法，并对这种方法进行了理论分析。
【机 构】
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中国科学院西安光学精密机械研究所空间光学研究室
【出 处】
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光学学报
【发表日期】
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1996年11期
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