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本文指出，借助高分辨电子显微镜观察到的显微像并不总直观地反映晶 体结构，对于在特定离焦条件下拍摄到的结构像，其分辨率还要受显微镜分辨本领的限制，只有超高压高分辨电子显微镜才能直接给出原子分辨率的结构像。文章介绍了衍射晶体学与高分辨电子显微学相结合起来的优越性，和据此发展的电子晶体学图像处理技术，用此技术可以实现“从头”测定晶体结构，并能把中等电压电子显微镜得到的结构像分辨率约提高1倍，达到原子分辨率。文中举例介绍了此技术在测定晶体结构和缺陷中的应用。