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论文以废旧电子元器件分类识别为应用背景,针对图像目标的边缘提取方法开展研究,分析了获得目标图像时分别采用反射光和透射光两种成像方法在成像原理和技术实现上的不同,并通过比较两种成像方法对于相同的目标物和边缘提取算法得到的不同试验结果,最终选择了透射光成像技术作为废旧电子元器件识别的成像方法。