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本文提出了利用化学力显微镜直接测量化学键强度的实验方法，其基本思想是设法使待测化学键形成于探针与样品之间，这可以通过适当的分子设计并对探针和基底进行修饰来实现。然后在成键的环境下测量探针与样品间的粘附力，并对其进行统计处理，即可计算出键能。本文模拟硫醇在金表面上自组装摹成膜过程，即在无水乙醇溶液中现场检测镀金探针与巯基为末端的自组装膜间的粘附力。然后用ＪＫＲ粘滞理论计算实际成键个数，由此测得Ａｕ－