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本文主要探讨用ＸＲＦ基本参数法测定电子陶瓷材料的成分含量，计算所需的基本参数都通过数学计算处理，用Ｃ语言设计编面测试软件，该法也适用于定量分析合金材料成分，稳定性和重现性好，高含量时的测试误差小于３％，低含量的误差也较小。
XRF基本参数法测量和计算电子材料的组成
【摘 要】
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本文主要探讨用ＸＲＦ基本参数法测定电子陶瓷材料的成分含量，计算所需的基本参数都通过数学计算处理，用Ｃ语言设计编面测试软件，该法也适用于定量分析合金材料成分，稳定性和重现性好，高含
【机 构】
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电子科技大学信息材料工程学院
【出 处】
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光谱学与光谱分析
【发表日期】
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1997年3期
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