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采用溶胶-凝胶法以锗酸根离子水溶液作为前驱体制备了Sn掺杂GeO2粉体样品。用X射线衍射和红外光谱分析了试样的微观结构;用X射线能谱仪测试了试样的组成;用场发射扫描电子显微镜观察了试样的微观形貌;用紫外-可见光光谱分析了试样的禁带宽度。结果表明,Sn掺杂GeO2粉体试样为单一六方GeO2晶相,粒子具有包覆形貌。Sn的掺杂引起了GeO2晶格常数有规律的变化和红外吸收光谱的红移。利用漫散射紫外-可见光光谱计算出GeO2和Sn掺杂GeO2试样的禁带宽度分别为5.04eV和4.51eV。荧光光谱显示Sn掺杂GeO