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对涡流式位移传感器测头的均化效应进行了理论分析，指出被测转子的细微轮廓可以被均化，其回转误差的测量不受均化影响。推导了均化效应的幅频特性曲面，根据此幅频特性，对采样数据的高次成分的失真现象进行了深入分析。
均化效应对转子回转误差测量的影响及分析
【摘 要】
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对涡流式位移传感器测头的均化效应进行了理论分析，指出被测转子的细微轮廓可以被均化，其回转误差的测量不受均化影响。推导了均化效应的幅频特性曲面，根据此幅频特性，对采样数据
【机 构】
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西安理工大学
【出 处】
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中国机械工程
【发表日期】
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2006年6期
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