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在剂量为1×10<14>~1×10<17>ions/cm<2>的范围内,用能量为160keV氮离子对PTEE表面进行注入处理,处理后的样品用可见(514.5nm)和傅立叶红外(1064nm)喇曼(Raman)光谱以及扫描电镜进行检测.结果表明低剂量注入可导致弱C-C键的断裂,中等剂量时溅射损失效应明显,高剂量注入时微观结构强烈地变化并生成C=C双键.