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测试集优化是数字电路测试的一个基本问题．本文提出了一种基于遗传排序的测试集优化方法，采用遗传算法对测试集的“矢量-故障”矩阵的行向量排列顺序进行优化，并采用行列消去法作为适应度评估方法．实验结果表明，基于遗传排序的测试集优化方法有效地减少了测试矢量的数目，而且保证了所得的测试集中不包含冗余测试矢量．