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采用传统的固相反应法制备了（1-x）BaZr0．25Ti0．75O3（BZT）＋xSm2O2（X=0，0．002，0．004，0．006，0．008，0．01）的铁电陶瓷，用X射线衍射和介电谱方法研究了Sm2O3的掺杂对BZT陶瓷结构和介电性能的影响．结果表明，Sm2O3的掺入没有改变BZT晶体钙钛矿结构，并且随着Sm^3＋取代浓度增大，衍射峰向高角度略有偏移，说明晶面间距减小；随着Sm2O3，掺杂量的增加，BZT介电峰向低温区移动，并且被压低展宽，BZT陶瓷介电常数和介电损耗随Sm2O3掺杂量的增加而减