V型金丝间距对微波组件电性能的影响

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金丝键合是微波组件产品制造中的重要工艺,其中V型金丝应用广泛。针对V型金丝的键合间距对微波组件的电性能影响进行研究,运用仿真及实验的方法进行详细分析。分析结果表明,V型金丝间距增大,驻波比参数变小,插入损耗变小,相位差增大。
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从锗片实际应用中存在的表面均匀性差、表面质量不稳定问题出发,对影响锗片表面质量的因素进行了分析。研究结果表明,对锗片表面进行钝化后,能够改变锗抛光片表面的悬挂键状态、降低界面态密度,最终提高锗片的实际应用效果。并重点对氢钝化、氯钝化、氮钝化、硫钝化、硅钝化、氟钝化、烷烃钝化等主流钝化方式的适用性及优劣性进行了对比分析,对比分析主要从钝化液种类的选取、钝化时间与温度、钝化效果几个方面进行。
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针对AMOLED除泡工艺中传统的搬送模型,为了实现搬送过程的智能化,并完成对产品的自动分拣,基于搭载混合视觉技术的机器人,通过优化视觉算法,利用三菱PLC进行逻辑控制,实现了产品的精准识别、判定及取放。使用结果表明:该系统稳定可靠,实现了对AMOLED产品的智能搬送及分拣,优化了产线结构,且极具实用性。