【摘 要】
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随着集成电路制造工艺持续向纳米尺度的推进,数字电路受老化、工艺误差、软错误等故障所造成的时序偏差越发突出,严重威胁了电路的“时序安全”.文中通过分析故障影响信号稳
【机 构】
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合肥工业大学电子科学与应用物理学院
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随着集成电路制造工艺持续向纳米尺度的推进,数字电路受老化、工艺误差、软错误等故障所造成的时序偏差越发突出,严重威胁了电路的“时序安全”.文中通过分析故障影响信号稳定性侵犯模型,提出了一种新的故障检测模型.该模型扩展了现有的故障检测能力,通过使用C单元作为稳定性检测器输出单元,提高了其对高速的适应性.仿真结果显示,与已有结果相比其具有明显的速度优势和较小的硬件开销.
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