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剪切散斑干涉技术是利用相干光照射在粗糙的物体表面,在空间所形成的散斑,实现物体表面位移和变形检测。它具有可以全场测量,光路简单,调节方便,对环境要求低等特点。主要讨论基于迈克耳孙的剪切散斑干涉术的原理及位移导数与条纹之间的关系。通过相关实验证明剪切散斑干涉技术在物体离面位移检测中的准确性和有效性。