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选用硅烷偶联剂KH-570对SiO2纳米粉体进行表面改性，利用IR，TG等对改性前后Si02粉体性能进行了表征；并利用IR，DSC对SiO2／PET体系的热性能和结晶性能进行了测试。实验结果表明：经表面改性的SiO2粉体的红外光谱在1715cm～，1300cm^-1及1452cm^-1等处出现了KH-570的特征吸收峰；改性后SiO2粉体的TG曲线在350℃出现明显质量减少，表明KH-570与SiO2发生了化学反应，实现了KH-570对SiO2表面包覆改性的目的。含有Si02的PET结晶温度和玻璃化温度降