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针对内孔零件批量快捷测量的问题,提出了基于反射式光强调制型光纤位移传感器的电子塞规测试系统。介绍了系统的测量原理与机械结构,设计了光纤位移传感器的结构和补偿算法。
采用光纤传感器的电子塞规的设计
【摘 要】
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针对内孔零件批量快捷测量的问题,提出了基于反射式光强调制型光纤位移传感器的电子塞规测试系统。介绍了系统的测量原理与机械结构,设计了光纤位移传感器的结构和补偿算法。
【机 构】
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四川大学制造学院,荣昌永荣矿务局技工学校
【出 处】
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中国测试技术
【发表日期】
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2005年02期
【基金项目】
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四川省科技厅资助项目
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