CRC生成与同构逆序校验方法

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循环冗余校验码(CRC)被广泛应用于通信领域,CRC生成有两种电路:I型、II型.现有的逆序校验方法是基于II型电路生成、I型电路逆序校验,存在CRC生成与逆序校验电路不同构的问题,不便于模块化设计.根据I、II型电路特性,基于全状态转移矩阵,给出一般情况下,即CRC生成电路寄存器为非零初态时,CRC生成为I型或II型对应的同构I型或II型逆序校验方法.生成与逆序校验同构后,中间处理电路结构不变,参数不同,可以根据需要对其进行优化,提高处理速率.最后,通过实例计算,验证了同构逆序校验方法的正确性.
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