γ射线与N离子辐照类金刚石薄膜的机理研究

来源 :原子核物理评论 | 被引量 : 0次 | 上传用户:hbc235wjm
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
对类金刚石(以下简称DLC)薄膜受γ射线与N离子辐照的结果进行了比较. 通过Raman光谱分析得出:γ射线辐照造成薄膜中SP3C—H和SP2C—H键的减少及SP3C—C键的增加, 与此同时氢原子结合成氢分子,并从膜中释出,薄膜的类金刚石特征更加明显. 当辐照剂量达10×104 Gy时, SP3C—H键减少了约50%. N离子辐照使DLC薄膜中SP3C—C键、 SP2C—H键及SP3C—H键的含量均变少,并伴随着氢分子的释出,直接导致DLC薄膜的进一步石墨化,其对SP3C—H及SP2C—H键的破坏
其他文献
光照问题是人脸识别问题中的一个关键问题,为提高人脸识别的识别率,提出了利用多级小波分解来对图像进行光照补偿。首先将图像进行多级小波分解,并将分解后的最后一级子带图像的灰度进行归一化,从而去掉图像中的光照成分,再将归一化后的图像进行小波恢复。将该技术应用于隐马尔科夫法人脸识别,并和已有的几种光照处理方法进行了比较,其对识别率有显著的提高。
简要地介绍了热中子俘获瞬发γ射线数据的测量、评价、检验及其中子俘获瞬发γ射线活化分析数据库的研制、结构和基本数据内容等.
文章针对导柱模架的模板加工过程,特别是在铣床上加工模板孔径出现的问题进行探讨,找出解决问题的方法。保证了模板的尺寸精度和形位精度,延长了模架的使用寿命。