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目前 ,利用“IEC本安电路火花试验装置” ,对时间常数较大的电容性电路试验 ,在多数情况下都采用拔钨丝根数来实现。经过近十多年的实际运行表明 ,这种简单的替代可能降低了试验电容性电路的灵敏度。本文通过对阻容性电路的充放电时间及IEC火花试验装置打火间隔的理论分析和计算 ,找出了灵敏度低的原因 ,并探讨了在不影响IEC火花试验装置性能指标的前提下 ,试验电容性电路的新途径。