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基于时间相关单光子计数原理的探测系统，设计并实现了一种新型的x射线激发发射光谱仪，以有效探测高能X射线激发闪烁体的发光强度（尤其是微弱的发光）及相关的余辉特性测量。通过对常见的CsI（TI）、LYSO（Ce）闪烁晶体和Tb^3＋激活硅酸盐闪烁玻璃等的测’试结果表明，所研制的x射线激发发射光谱仪能很好地满足闪烁材料的研发需要。