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扩展Ｘ射线吸收精细结构（ＥＸＡＦＳ）谱是研究物质原子近邻结构和表面结构的有力工具。ＥＸＡＦＳ谱的解析通常采用标准样品比较法或最小二乘曲线拟合方法。但前者对标样的要求很高，而后者则参数初值难以确定，且结果有时不唯一。本文提出一种ＥＸＡＦＳ曲线拟合的新方法一遗传算法，并对单配位层Ｃｕ样品的ＥＸＡＦＳ谱图进行了解析，取得满意的结果。