论文部分内容阅读
[摘要]目的探讨磁共振弥散张量成像技术(DTI)在轻中度脑损伤中的应用,推断锥体束损伤的程度,并通过DTI的动态观察预测锥体束损伤后中长期的预后。方法2016年10月至2018年10月轻中度脑外伤患者25例,采用GE公司的Signa 1.5T HDX型超导型磁共振扫描仪,常规扫描方向是橫断及冠状位,DTI扫描应用自旋-平面回波技术,扫描方向为横断及冠状。采集DTI数据,额叶和额颞叶复合损伤,通过测量外伤病灶侧及非病灶侧的FA值,观察病灶远端神经束的FA值的变化。对颞叶损伤累及内囊的患者,在大脑脚水平测量病