圆片级芯片尺寸封装技术及其应用综述

来源 :半导体技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户:lieying110
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
综述了圆片级芯片尺寸封装(WL-CSP)的新技术及其应用概要,包括WL-CSP的关键工艺技术、封装与测试描述、观测方法和WL-CSP技术的可靠性及其相关分析等.并对比研究了几种圆片级再分布芯片尺寸封装方式的工艺特征和技术要点,从而说明了WL-CSP的技术优势及其应用前景.
其他文献
近年来,随着网络系统性能日益提高,网络复杂程度亦大幅提高,网络设备厂商正在寻找能帮助他们简化系统设计、构建智能应用协议网络的高度集成的内容处理解决方案。作为网络通信解
根据实验条件及元素扩散作用理论分析,本文认为Lee等(1997)和Cherniak等(2000)进行花岗岩锆石中U和Ph扩散系数实验得出的“锆石U—Pb同位素体系封闭温度〉900℃”结论只适用于解释
班公湖镁质碳酸岩体是青藏高原隆升过程中,在岩浆和流体作用下,含碳物质壳内循环作用的产物。本文利用LA-MC.ICP—MS测试技术对镁质碳酸岩样品中的交代型锆石进行了u—Pb同位素
大通县在历经多年的探索发展之后,农业实现了突破性进展,取得了优异成绩,成为农业部认定的青海省首个国家级现代农业示范区。