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针对电子元器件的表面缺陷对其性能和品质有直接影响的问题，基于图像处理技术，以晶振外壳缺陷的检测为例，研究了电子元器件表面缺陷的检测技术。首先建立了检测系统平台，然后对所获取的图像进行分析和检测目标分割，并由生成的灰度共生矩阵计算纹理特性值。基于惯性值对纹理的深浅具有敏感性，比较研究之后，采用了惯性值作为检测表面缺陷的指标。试验结果表明该方法能够有效检测平面缺陷。