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本文首先采用扫描电子显微镜(SEM)和俄歇电子能谱仪(AES)分析研究了一种密封继电器镀金电触头(基体材料为99.5AgMgNi)的污染,结果表明:触头的冲击磨损和滑动磨损可导致基体金属暴露于表面,使之硫化、碳化和氧化,从而引起触头污染。文中还运用扫描电子显微镜和四极质谱仪(QMS),对经湿热试验后失效的另一种密封继电器镀金电触头(基体材料为AU50Ag20cU30)的污染进行了分析研究,发现密封继电器内水汽等的存在是导致失效的主要因素,触头受到了污染。为研究、诊断污染的来源并采取相应的措施提供了依据。更