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针对内建自测试技术难以检测到抗随机测试故障的缺陷，提出一种充分利用测试向量中的无关位增加测试向量分组长度的方法。由含无关位的测试向量产生出相应电路内部节点的响应向量，通过分析测试向量与响应向量之间的关系，给出一些启发式规则并构建相应的有向图，用深度优先搜索方法查找出PXM个有向图的最长公共路径。实验结果表明，最大测试分组中的向量数平均增加了2．2个。