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[期刊论文] 作者：周枭, 罗萍, 何林彦, 肖天成,,
来源：太赫兹科学与电子信息学报 年份：2019
功率管在空间辐射环境下会发生沟道边缘漏电,导致功率集成电路性能退化。介绍了一种0.35μm单片集成(BCD)工艺下基于华夫饼结构的全新功率管版图,并对普通条形栅结构N沟道功...
[期刊论文] 作者：何林彦, 罗萍, 周枭, 凌荣勋,,
来源：太赫兹科学与电子信息学报 年份：2019
光电耦合器的核心模块是光电探测芯片。介绍了一种抗辐照光电探测芯片的设计,该电路基于 0.5 μm 标准互补金属氧化物半导体(CMOS)工艺研制,内部包含跨阻放大器(TIA)、基准源...
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