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[期刊论文] 作者：俞冠高,王翠莲,
来源：固体电子学研究与进展 年份：2004
研究了InP掺杂浓度分布,确认测量系统的可信性.在多元材料生长中,组分控制重复性欠佳的情况下,根据每片材料的C~(-2)-V特性测出内建电势V_D,可以得出接近于材料实际的掺杂浓...
[期刊论文] 作者：俞冠高,金立荣,张崇仁,
来源：半导体学报 年份：1981
由于多层外延材料浓度和厚度的不均匀性,实验二极管的击穿电压V_B有较大的差别.为此对给定的掺杂分布进行V_B、耗尽宽度及电场的分析和计算.从实验中找到室温下掺杂分布和伏...
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