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[期刊论文] 作者：邹延珂,周俊,倪径,郭韦,徐德超,
来源：磁性材料及器件 年份：2019
采用直流磁控溅射法沉积了Ta/NiFe/FeMn/Ta薄膜系列样品。通过振动样品磁强计(VSM)、X射线衍射(XRD)、原子力显微镜(AFM)等检测手段研究了Ta缓冲层厚度对NiFe/FeMn薄膜交换偏...
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