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[期刊论文] 作者：刘丽辉 谢瑞芳 陈棣湘 田武刚 周卫红 翁飞兵,
来源：中国测试 年份：2016
摘要：针对飞机发动机涡轮叶片缺陷检测难度大、效率低、严重制约航空装备保障的问题，设计一套基于ARM和FPGA的双核电磁无损检测系统。该系统采用FPGA结合A/D采样芯片完成64通道数据采集，并以基于android系统的ARM实现对各功能单元的控制。FPGA控制A/D采样芯片完成......
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