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[会议论文] 作者：刘启明[1]赵修建[1]干福熹[2]米君[3]钱士雄[3],
来源：2005中国硅酸盐学会特种玻璃分会学术研讨会 年份：2005
本文运用X射线衍射分析(XRD)、红外光谱分析(IR)和透射光谱分析,研究了Ge20As25Se55非晶半导体薄膜经514.5nm波长的氩离子激光辐照后的结构及性能变化.实验结果表明,经热处理...
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