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[学位论文] 作者：刘龑达,,
来源： 年份：2014
随着数字集成电路设计复杂度和集成度的不断上升，单位面积晶体管数目急速增长，测试向量的数目也急剧增加。伴随而来的是更高的测试频率以及更长的测试时间，使得测试功耗过高的问......
[期刊论文] 作者：任威丽, 于忠臣, 刘龑达,,
来源：科技信息 年份：2013
本文介绍了时钟树综合的概念及指标,分析了电力网载波通信芯片的时钟结构,针对其含有多路选择器路径的时钟结构提出了时钟树综合的方案,极大的优化的了时钟树综合的结果,为后...
[期刊论文] 作者：王沛荣,于忠臣,刘龑达,,
来源：科技信息 年份：2013
在集成电路物理设计过程中,降低芯片制造成本,提高芯片性能是提高半导体产品市场竞争力最重要的因素。本文介绍了基于标准单元模块化放置的集成电路设计方法,从而减小芯片的...
[期刊论文] 作者：刘龑达,万培元,林平分,,
来源：中国集成电路 年份：2014
芯片测试模式下功耗过高的情形会极大地降低芯片良率,已经成为越来越严重的问题.针对此问题,本文提出了一种降低测试功耗的设计方法.该方法采用贪婪算法来改变扫描链顺序,同...
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