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[期刊论文] 作者：唐彩彬,,
来源：电子与封装 年份：2016
介绍了电源芯片的多Site测试设计与实现。基于CTA8280测试系统，通过对芯片CP（晶圆测试）要求进行分析，设计了8Site测试电路外围，能够实现对晶圆进行8Die并行测试。测试结果显示，该方......
[期刊论文] 作者：唐彩彬,
来源：电子与封装 年份：2019
介绍了DC/DC电源模块的通用测试方法。基于Chroma 8000测试系统,通过对DC/DC电源模块测试要求进行分析,设计了某款DC/DC电源模块测试夹具与测试外围,实现了对该DC/DC电源模块...
[期刊论文] 作者：唐彩彬,
来源：电子与封装 年份：2022
介绍了一款USB功率传输(Power Delivery,PD)快充协议芯片的晶圆测试方法.基于Chroma 3380P测试系统,通过对USB PD快充协议芯片测试要求进行分析,设计了双site并行测试外围电路,实现了对该USB PD快充协议芯片的主要功能与性能参数测试.该方案能够作为通用测试方......
[期刊论文] 作者：唐彩彬, 张凯虹,,
来源：电子与封装 年份：2017
介绍了LDO(线性稳压器)的通用测试方法。基于长川CTA8280测试系统,通过对芯片CP(圆测试)要求进行分析,设计了某款LDO芯片的测试外围,实现了对该LDO芯片功能与性能的测试。该...
[期刊论文] 作者：唐彩彬,杨晓刚,张正璠,柳沐璇,,
来源：微电子学 年份：2015
介绍了一种片上FLASH存储器的设计与实现。通过对FLASH IP接口功能及时序的分析,实现了特定FLASH的控制逻辑;对FLASH增加了片外测试接口,便于片外测试。仿真结果表明,该设计...
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