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[期刊论文] 作者：李森,尚建兴,张大伟,田露,张鹏曲,肖红玺,郝金刚,黄东升,王威,张学智,,
来源：液晶与显示 年份：2017
为降低TDDI产品Lead Open型线不良发生率,本文对Lead Open的发生机理进行了研究及改善验证。对TDDI产品生产数据进行了对比,对Mo-Al-Mo结构的SD膜层进行研究,根据以上结果确...
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