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[学位论文] 作者：张城绪,,
来源：南京大学 年份：2016
随着CMOS器件尺寸的不断缩小,功耗问题和器件可靠性问题变得日益严重,逐渐成为制约集成电路发展的瓶颈。在65nm以下节点的CMOS器件中,负偏压温度不可靠性(NBTI)和随机电报噪...
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