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[期刊论文] 作者：朱永强,张桂墙,
来源：半导体学报 年份：1994
本文用Ｃ－Ｖ法、金相腐蚀法、Ｘ光电子谱、俄歇电子谱研究ＧａＡｓ表面硫钝化膜和激光辐照硫化的效果。...
[期刊论文] 作者：张桂墙,李之其,
来源：大学物理 年份：1998
在外磁通作用下射频超导量子干涉器（ＲＦＳＱＵＩＤ）超导结两边量子相位差受到调制，干涉器吸收谐振回路能量的同时也影响谐振回路，回路输出电压与外磁通为三角波曲线关系，再受静磁场作用时曲线移......
[期刊论文] 作者：董颖达,张桂墙,
来源：大学物理 年份：1998
教学实验中用ＮａＩ（Ｔｌ）单晶能谱仪测量γ射线强度与能量的关系，即γ能谱图，但不能测到康普顿效应中反冲电子的密度分布，本文介绍利用该仪器测定反冲电子密度分布，并与光子－电子的刚性小球作......
[期刊论文] 作者：曹永明,张桂墙,
来源：物理实验 年份：1989
非弹性电子隧道谱简称IETS,对它的研究开始于1966年,是一种较新的实验技术。从隧道结的制备到谱的获得,包含了高真空获得、金属薄膜淀积、低温液体使用以及弱讯号测量等...
[期刊论文] 作者：张桂墙,李之其,
来源：理化检验：物理分册 年份：1998
超导量子干涉器在交变外磁场的作用下其量子干涉效应的宏观尺度上呈现三角波特性曲线，再施于静磁场时特性曲线会移动，并有具有很高灵敏度，据此可探测弱磁场的存在有应用到材料检......
[期刊论文] 作者：蔡颂仪,张桂墙,
来源：薄膜科学与技术 年份：1993
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[期刊论文] 作者：曹永明,张桂墙,,
来源：理化检验.物理分册 年份：1988
用干涉显微镜测量金属薄膜厚度,是一种简便而直观的办法。通常情况下,被测对象是用真空蒸镀或溅射等方法在介质基片上沉积的一层金属膜。但由于金属和介质两者的光学性质并不...
[期刊论文] 作者：蔡颂仪,张桂墙,,
来源：物理教学 年份：1986
热电偶是一种常用的测量温度的器件,它是由二根不同性质的导线A、B焊接在一起而组成的。对于一定的导线A、B,线路中产生的电动势是它的二个接点T_1、T_2的温度函数,如图1(a)...
[期刊论文] 作者：朱永强,张桂墙,蔡颂仪,郝炳权,
来源：半导体学报 年份：1994
本文用Ｃ－Ｖ法、金相腐蚀法、Ｘ光电子谱（ＸＰＳ）、俄歇电子谱（ＡＥＳ）研究ＧａＡｓ表面硫钝化膜和激光辐照硫化的效果．In this paper, C-V method, metallographic etching method, X-ray photoelectron sp......
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