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[期刊论文] 作者：张西应,颜骥,任亚东,,
来源：大功率变流技术 年份：2016
功率半导体器件发生机械应力失效的直接原因是外部应力大于器件自身强度,并间接引发器件上电应力或者热应力过载,最终造成器件损坏。文章结合机械可靠性理论中应力-强度干涉...
[期刊论文] 作者：操国宏, 高军, 张西应, 姚震洋,
来源：电力电子技术 年份：2021
电压源型换流器柔性直流输电(VSC-HVDC)旁路晶闸管伴随使用需求的不断提升,不仅需要满足较低的主电压开通功能,还需要集成转折击穿功能。从VSC-HVDC用集成转折击穿功能旁路晶...
[期刊论文] 作者：张西应,曾文彬,操国宏,彭军华,孙文伟,刘雅岚,
来源：电子质量 年份：2022
大功率半导体器件是直流输电、牵引传动与工业变流等系统的核心部件，如何有效地评估器件工作状态并准确预测其剩余使用寿命，是提升系统工作可靠性的关键难题。该文通过对比不同的加速老化试验方法和寿命预测模型，采用现场工况与仿真相结合的方法，设计了一套热循环负......
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