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[期刊论文] 作者：彭苏娥,
来源：半导体技术 年份：2000
对国外近几年在半导体器件成品率与可靠性之间的关系研究情况进行了综合、分析 ,介绍了成品率预计模型及其参数的选取。...
[期刊论文] 作者：彭苏娥,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：1998
本文从阐述失效分析的主要任务和电子元器件可靠性设计的基本概念入手，探讨了失效分析与元器件可靠性设计之间的关系，介绍了如何根据不同的失效模式采取相应的可靠性设计技术的......
[期刊论文] 作者：彭苏娥,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：2002
介绍了进行电子元器件工艺控制时应满足的基本条件和主要步骤,并以电容器、集成电路为例,介绍了如何通过分析关键工艺因素与产品主要失效模式的相关性,实施有针对性的工艺控...
[期刊论文] 作者：彭苏娥,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：2000
综述了国外微电子器件成吕率提高的三个阶段和成品率损失的原因分析，介绍了国外成品率预测模型的研究及利用测试结构对影响成品率的缺陷进行监测和查找的情况，进而讨论了微电子......
[期刊论文] 作者：彭苏娥,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：1996
前言电子元器件产品的制造大略可分为研制和生产两个过程。研制过程包括任务确定、方案论证、试制和设计定型等阶段。研制过程可靠性管理的总目标是承制单位必须保证产...
[期刊论文] 作者：彭苏娥,
来源：电子元件与材料 年份：1992
收集了全国6个省份144075台时、1.359144×10~8元件小时的机载电子设备可靠性数据,计算了该设备中各类电子元件的现场可靠性水平,分析了其失效模式和机理,探讨了机载环境...
[期刊论文] 作者：彭苏娥,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：1994
1 可靠性设计评审的目的 和作用 可靠性设计评审是在设计的关键时刻,由承制单位组织非直接参加设计工作的各有关方面的专家、使用方及任务提出单位的代表,对设计进行及...
[期刊论文] 作者：彭苏娥,
来源：质量与可靠性 年份：2001
在综合介绍并行工程的形成背景和发展概况的基础上，主要对并行工程及并行工程环境的基本概念、主要技术内容和应用方法进行了探讨。...
[期刊论文] 作者：彭苏娥,
来源：电子质量 年份：1991
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[期刊论文] 作者：彭苏娥,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：2002
介绍了国外半导体器件成品率与可靠性之间关系的研究结果，提出了元器件成品率的高低，是产品质量与可靠性高低的“预示”这一观点。同时还对成品率损失的原因、影响产品质量和可......
[期刊论文] 作者：王长河,彭苏娥,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：2003
重点介绍了国内外半导体器件制造工艺与器件可靠性的相关性报道:工艺缺陷、微缺陷、关键工艺对器件质量和可靠性的影响及其控制方法;还介绍了关键工艺控制点的确定及其参数控...
[期刊论文] 作者：彭苏娥,刘涌,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：1999
本文用美国哈里斯半导体器件公司的实例数据介绍了如何采用新概念计算半导体失效率的方法，并收集了近年来发表的部分半导体器件失效率的数据（其中早期失效率数据是利用６０％置信度计......
[期刊论文] 作者：刘红,彭苏娥,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：1998
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[会议论文] 作者：王长河,彭苏娥,
来源：中国电子学会可靠性分会第十一届学术年会 年份：2002
本文重点论述了微电子器件在整个制造工艺中锈生的缺陷对器件质量和可靠性的影响,并介绍了国内外厂、所对工艺环境及工艺缺陷的控制方法....
[期刊论文] 作者：彭苏娥,郑丽香,,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：2005
分析了进口元器件质量保证等级及控制要求,分析了美国军用级(JAN)产品的特点,并从健全管理制度,进行科学管理,按优选顺序与选择原则采购具有质量保证等级及控制要求的元器件,...
[期刊论文] 作者：彭苏娥,费庆宇,
来源：电子测试 年份：1998
引言由于微电子器件不断朝着微细化和高密度方向发展,加之产品的使用环境日益严酷,不但使一些原来对产品可靠性有影响的问题更加突出,而且还产生了新的可靠性问题,如过...
[会议论文] 作者：黄雪娟,彭苏娥,
来源：中国电子学会可靠性分会第七届学术年会 年份：1994
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[会议论文] 作者：彭苏娥,陈光炳,
来源：第九届全国可靠性物理学术讨论会 年份：2001
本文根据我国电子元器件目前的生产情况,分析了制造过程产生工艺波动、影响产品质量与可靠性的原因,以及工艺因素与产品主要失效模式的相关性,并针对这些影响因素,探讨了在生产工艺上进行可靠性控制的技术和方法.为了更好地对元器件生产工艺实施全面、有效的控......
[期刊论文] 作者：钟伦燕, 刘红, 彭苏娥,,
来源：电子质量 年份：2004
研究了统计过程控制技术中的常规控制图、通用控制图、小波动控制图、多元控制图、选择控制图及其应用范围。...
[会议论文] 作者：彭苏娥,张德胜,雷学琪,刘瑞生,
来源：中国电子学会可靠性分会第八届学术年会 年份：1996
该文根据国内元器件产品研制、生产的现状，在论述可靠性控制的基本概念与实施可靠性控制的基本要求的基础上，重点针对产品在研制过程、生产过程出现的失效现象和原因，从设计阶段......
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