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[期刊论文] 作者：戴昌培,
来源：计算机自动测量与控制 年份：1996
文章概述了周期产生器的主要性能指标，介绍了加（减）计数法周期产生的原理，提出了提高周期产生器工作速炫的方法，介绍了以粗精组合方法提高周期分辨力的方法，分析了可控振荡法，软件累......
[会议论文] 作者：戴昌培,
来源：第九届中国集成电路测试学术年会 年份：1999
该文简要说明I测试所涉及的测试向量集、 高速监测电路及检测方法等三个方面。以实验数据为基础说明从CMOS数字IC成品中筛选出高可靠性、低功耗IC是可能的。文章着重说明了I...
[会议论文] 作者：戴昌培,
来源：第九届中国集成电路测试学术年会 年份：1999
该文简要说明I测试所涉及的测试向量集、 高速监测电路及检测方法等三个方面。以实验数据为基础说明从CMOS数字IC成品中筛选出高可靠性、低功耗IC是可能的。文章着重说明了I限值I的确定方法及I的检测步骤。该文对CMOS数字IC生产单位及用户单位有一定意义。......
[会议论文] 作者：张东,戴昌培,
来源：第二届中国IC CAD联谊会 年份：1998
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[期刊论文] 作者：陈庆方,戴昌培,
来源：微电子测试 年份：1993
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[期刊论文] 作者：赵振峰,戴昌培,,
来源：微电子测试 年份：1995
本文说明模拟电路结构化可测性设计（ＤＦＴ）的原则，同时介绍了两个可测性设计结构。这些原则和结构可以作为数模混合测试总线标准ＩＥＥＥ Ｐ１１４９．４的基础。...
[期刊论文] 作者：陈庆方,戴昌培,
来源：电子测量与仪器学报 年份：1994
本文提出了数模混合集成电路的一种可测性设计结构。在IEEE1149.1标准的基础上,用模拟多路分配器与选择器实现对模拟宏单元的隔离、控制与观察。模拟宏单元测试所需的数字控...
[会议论文] 作者：戴昌培,杨新涛,
来源：中国电子学会电子测量与仪器学会第五届年会 年份：1994
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[会议论文] 作者：戴昌培,曾少杰,
来源：中国集成电路测试学术年会 年份：1990
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[会议论文] 作者：戴昌培,彭宇行,
来源：中国集成电路测试学术年会 年份：1990
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[会议论文] 作者：陈庆方,戴昌培,
来源：中国电子学会93'自动测试与控制年会 年份：1993
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[会议论文] 作者：陈宁,曾少杰,戴昌培,
来源：中国集成电路测试学术年会 年份：1990
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[期刊论文] 作者：赵步云,管杰,戴昌培,
来源：电子工业专用设备 年份：2005
介绍了通用DAC芯片的主要测量参数及其测试方法.并以12-bit高速DAC芯片ISL5861为例,利用Credence公司的数模混合信号测试系统Quartet实现对高速数模转换芯片进行测试....
[会议论文] 作者：戴昌培,刘治,陈吉华,
来源：中国集成电路测试学术年会 年份：1990
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[期刊论文] 作者：陈庆方,吴烈诩,戴昌培,赵振峰,
来源：装甲兵工程学院学报 年份：1996
论述了一种对电子系统VLSI自顶向下的层次化自动化测试方法及层次化自测试的概念和相应的可测试性设计结构,并讨论了数模混合集成电路的可测试性设计问题。This paper disc...
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