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[期刊论文] 作者：曾梁英,阮玮玮,胡子信,李明,,
来源：半导体技术 年份：2010
栅氧化层变薄的趋势使得栅氧化层制程对IC产品可靠性的影响成为业界关注的焦点之一。在0．18μm工艺的基础上，针对6V器件对应的氧化层，设计了两种不同的栅氧化层生长方式，并对这两......
[期刊论文] 作者：徐湘明,曾梁英,姜永权,,
来源：信息技术 年份：2006
在OFDM系统中，子载波间的正交性是保证OFDM性能的重要保障。针对双选择性衰落信道下的OFDM系统，该文在分析载波间干扰（ICI）的基础上，提出了一种采用频域迭代消除ICI的均衡算法。分......
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