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[期刊论文] 作者：李佳列,丁国清,颜国正,朱洪海,
来源：光学精密工程 年份：2002
利用CCD传感器对工件进行测量是非接触测量领域的常用方法 ,但受到CCD像元特征尺寸的限制 ,测量精度往往只能达到微米级 ,限制了该系统在非接触测量方面的更广泛应用。本文从...
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